冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于實(shí)驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和實(shí)驗(yàn)室，產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在實(shí)驗(yàn)

pcb冷熱沖擊試驗(yàn)試驗(yàn)箱根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于實(shí)驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和實(shí)驗(yàn)室，產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在實(shí)驗(yàn)

空氣中熱沖擊試驗(yàn)機(jī)根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于實(shí)驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和實(shí)驗(yàn)室，產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在實(shí)驗(yàn)

線(xiàn)性冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱可以通過(guò)恒定溫度或溫度變化循環(huán)產(chǎn)生預(yù)定溫度。工作箱是待測(cè)樣品的放置區(qū)域，可以進(jìn)行沖擊測(cè)試，包括冷、熱、濕等不同環(huán)境條件的沖擊測(cè)試，以測(cè)試樣品在溫度環(huán)境下的耐受性和性能。

上下移動(dòng)溫度沖擊試驗(yàn)箱采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個(gè)等溫過(guò)程和兩個(gè)絕熱過(guò)程組成。過(guò)程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換,將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功,這時(shí)制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過(guò)蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的。