當前位置:首頁 > 產品中心 > 冷熱沖擊箱 > 可程式冷熱沖擊試驗機 > 3AP-CJ-80A可(ke)程式冷熱沖擊試驗機
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價格區間 | 10萬-20萬 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 能源,建材,電子,印刷包裝 |
一、可程式冷熱沖擊試驗機產品名稱三箱冷熱沖擊試驗機(風冷式)
二、產品型號(hao)3AP-CJ-80A
三、設備(bei)用(yong)途:廣泛(fan)用(yong)于電子(zi)電器零(ling)組件(jian)(jian)塑(su)膠等(deng)行業、自動(dong)化(hua)零(ling)部件(jian)(jian)、通(tong)訊(xun)組件(jian)(jian)、汽車(che)配(pei)件(jian)(jian)、金屬、化(hua)學材(cai)(cai)料(liao)(liao)、塑(su)料(liao)(liao)等(deng)行業,國防工(gong)業、航天、兵工(gong)業、BGA、PCB基扳、電子(zi)芯片IC、半導體陶磁及高分子(zi)材(cai)(cai)料(liao)(liao)之物(wu)理性變化(hua)進行試(shi)驗,用(yong)來測試(shi)材(cai)(cai)料(liao)(liao)結構或復合材(cai)(cai)料(liao)(liao),在(zai)瞬間(jian)(jian)下經*溫(wen)及極低溫(wen)的連續環境下所能忍受的程度,藉(jie)以(yi)在(zai)最短時間(jian)(jian)內(nei)試(shi)驗其熱脹冷縮所引起的化(hua)學變化(hua)或物(wu)理變化(hua)。
四、是光電、金屬、光伏、塑料、硅膠、電器、橡膠、電子等工作材料或者工業行業的試驗設備。
五(wu)、有以(yi)下(xia)優勢:
1.采用微電腦(nao)大型液晶LCD觸摸(mo)屏中英文可隨意切(qie)換顯示的控(kong)制器作為主要系統。
2.此試驗(yan)設備的(de)箱體(ti)分為三(san)部分,分別(bie)為低(di)溫儲蓄(xu)冷(leng)量(liang)區(qu)(冷(leng)沖(chong)擊時用(yong)),高(gao)溫儲蓄(xu)熱量(liang)區(qu)(熱沖(chong)擊時用(yong)),產品(pin)測試擺放區(qu)(冷(leng)熱沖(chong)擊試驗(yan)時用(yong)),測試產品(pin)*靜(jing)止的(de)擺放在產品(pin)測試擺放區(qu)的(de)隔層架(jia)上,通過控制器(qi)指令把冷(leng)溫或(huo)者熱溫通過氣體(ti)找開閥門快(kuai)速灌進來(lai)從而達到沖(chong)擊的(de)目的(de)。
3.此試驗設(she)備還可(ke)設(she)定(ding)高(gao)(gao)溫、低溫及高(gao)(gao)低溫沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)三種不同試驗條(tiao)件的(de)功能做測試,執行高(gao)(gao)低溫沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)或才冷熱沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)條(tiao)件時,可(ke)選擇兩箱(xiang)(xiang)式或三箱(xiang)(xiang)式的(de)結構,除(chu)了可(ke)以做快速沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)試驗效果外(wai)還并具有(you)高(gao)(gao)低溫試驗箱(xiang)(xiang)的(de)普通功能。
4.高程序記憶容(rong)量,可設定儲存100組程序。
5.具(ju)有(you)RS-232C通信(xin)接口裝置,還(huan)可(ke)以(yi)加配USB直接用U盤導出測(ce)試數據(ju),使用便(bian)捷。
6.冷熱沖(chong)擊試驗(yan)設(she)備故障時,配有(you)自動機回路及警示訊(xun)號(hao)。發現輸(shu)入(ru)電(dian)力不(bu)穩定時,具有(you)緊急(ji)停機裝置。
7.具備全自動(dong),高精度系統回路,任一機件(jian)動(dong)作,*由P.L.C.鎖定處理。
六、容積、尺(chi)寸和重量
6.1.內容積(ji)80L
6.2.內箱(xiang)尺(chi)寸400*500*400mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(cun)(約)1550*1850*1600mm (W* H *D)
6.4.重 量約900㎏
七、可程式冷熱沖擊試驗機性能指標
7.1.測(ce)試環(huan)境條件機器(qi)周圍(wei)環(huan)境溫度(du)維持在+25~+30℃之(zhi)間,相對濕度(du):≤85%;氣壓(ya):86kPa~106kPa正常大氣壓(ya)力。
7.2.滿足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方(fang)法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高(gao)溫試驗方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化(hua)試驗Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫(wen)度沖擊(ji)試驗Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度(du)沖擊試驗(yan)Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.測試室(shi)溫度范圍-40℃~+150 ℃ (風冷(leng)式)
7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃~-40 ℃
7.3.2.高溫沖(chong)擊范圍60℃~150 ℃
7.4.高溫室(shi)
7.4.1.預熱溫度(du)范圍(wei)RT~+165℃
7.4.2.升溫時間
+50℃→+165 ≤30min
注:升溫時(shi)(shi)間為高溫室單獨運轉時(shi)(shi)的性能
7.5.低溫室
7.5.1.預冷溫度(du)范圍RT~-55℃
7.5.2.降溫時間+20℃ → -55℃≤約60min
注:降溫時(shi)間為低溫室單獨運轉時(shi)的性能
7.6.試(shi)驗室(shi)(試(shi)樣區)
7.6.1.試(shi)驗方(fang)式(shi)采(cai)用(yong)*之(zhi)蓄熱、蓄冷結構(gou),強制(zhi)冷熱風路切換方(fang)式(shi)導入測試(shi)區(qu),沖(chong)擊時(shi)高溫(wen)(wen)區(qu)或(huo)低溫(wen)(wen)區(qu)的溫(wen)(wen)度(du)沖(chong)入測試(shi)區(qu)進行沖(chong)擊,冷熱溫(wen)(wen)度(du)沖(chong)擊測試(shi)。
7.6.2.溫(wen)度(du)波(bo)動度(du)±0.5℃
7.6.3.溫度(du)偏差(cha)±2.0℃
7.6.5.溫(wen)度恢(hui)復時(shi)間(jian)3~5min;轉換溫(wen)度只需(xu)要≤10s(風門開啟時(shi)間(jian):5秒以內)
7.7.沖擊暴露時間≥30min。
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