一、可程式冷熱沖擊試驗機產品名稱三箱冷熱沖擊試驗機（風冷式）

二、產品型號(hao)3AP-CJ-80A

三、設備(bei)用(yong)途：廣泛(fan)用(yong)于電子(zi)電器零(ling)組件(jian)(jian)塑(su)膠等(deng)行業、自動(dong)化(hua)零(ling)部件(jian)(jian)、通(tong)訊(xun)組件(jian)(jian)、汽車(che)配(pei)件(jian)(jian)、金屬、化(hua)學材(cai)(cai)料(liao)(liao)、塑(su)料(liao)(liao)等(deng)行業，國防工(gong)業、航天、兵工(gong)業、BGA、PCB基扳、電子(zi)芯片IC、半導體陶磁及高分子(zi)材(cai)(cai)料(liao)(liao)之物(wu)理性變化(hua)進行試(shi)驗，用(yong)來測試(shi)材(cai)(cai)料(liao)(liao)結構或復合材(cai)(cai)料(liao)(liao)，在(zai)瞬間(jian)(jian)下經*溫(wen)及極低溫(wen)的連續環境下所能忍受的程度，藉(jie)以(yi)在(zai)最短時間(jian)(jian)內(nei)試(shi)驗其熱脹冷縮所引起的化(hua)學變化(hua)或物(wu)理變化(hua)。

四、是光電、金屬、光伏、塑料、硅膠、電器、橡膠、電子等工作材料或者工業行業的試驗設備。

五(wu)、有以(yi)下(xia)優勢：  

1.采用微電腦(nao)大型液晶LCD觸摸(mo)屏中英文可隨意切(qie)換顯示的控(kong)制器作為主要系統。 ; 

2.此試驗(yan)設備的(de)箱體(ti)分為三(san)部分，分別(bie)為低(di)溫儲蓄(xu)冷(leng)量(liang)區(qu)(冷(leng)沖(chong)擊時用(yong))，高(gao)溫儲蓄(xu)熱量(liang)區(qu)(熱沖(chong)擊時用(yong))，產品(pin)測試擺放區(qu)(冷(leng)熱沖(chong)擊試驗(yan)時用(yong))，測試產品(pin)*靜(jing)止的(de)擺放在產品(pin)測試擺放區(qu)的(de)隔層架(jia)上，通過控制器(qi)指令把冷(leng)溫或(huo)者熱溫通過氣體(ti)找開閥門快(kuai)速灌進來(lai)從而達到沖(chong)擊的(de)目的(de)。  

3.此試驗設(she)備還可(ke)設(she)定(ding)高(gao)(gao)溫、低溫及高(gao)(gao)低溫沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)三種不同試驗條(tiao)件的(de)功能做測試，執行高(gao)(gao)低溫沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)或才冷熱沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)條(tiao)件時，可(ke)選擇兩箱(xiang)(xiang)式或三箱(xiang)(xiang)式的(de)結構，除(chu)了可(ke)以做快速沖(chong)(chong)(chong)擊(ji)試驗效果外(wai)還并具有(you)高(gao)(gao)低溫試驗箱(xiang)(xiang)的(de)普通功能。  

4.高程序記憶容(rong)量，可設定儲存100組程序。  

5.具(ju)有(you)RS-232C通信(xin)接口裝置，還(huan)可(ke)以(yi)加配USB直接用U盤導出測(ce)試數據(ju)，使用便(bian)捷。  

6.冷熱沖(chong)擊試驗(yan)設(she)備故障時，配有(you)自動機回路及警示訊(xun)號(hao)。發現輸(shu)入(ru)電(dian)力不(bu)穩定時，具有(you)緊急(ji)停機裝置。  

7.具備全自動(dong)，高精度系統回路，任一機件(jian)動(dong)作，*由P.L.C.鎖定處理。

六、容積、尺(chi)寸和重量

6.1.內容積(ji)80L

6.2.內箱(xiang)尺(chi)寸400*500*400mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(cun)(約)1550*1850*1600mm   (W* H *D)

6.4.重  量約900㎏

七、可程式冷熱沖擊試驗機性能指標

7.1.測(ce)試環(huan)境條件機器(qi)周圍(wei)環(huan)境溫度(du)維持在+25~+30℃之(zhi)間，相對濕度(du)：≤85%；氣壓(ya)：86kPa～106kPa正常大氣壓(ya)力。

7.2.滿足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方(fang)法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高(gao)溫試驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化(hua)試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫(wen)度沖擊(ji)試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度(du)沖擊試驗(yan)Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室(shi)溫度范圍-40℃～+150 ℃ (風冷(leng)式)

7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃～-40 ℃  

7.3.2.高溫沖(chong)擊范圍60℃～150 ℃  

7.4.高溫室(shi)

7.4.1.預熱溫度(du)范圍(wei)RT～+165℃

7.4.2.升溫時間

+50℃→+165 ≤30min

注：升溫時(shi)(shi)間為高溫室單獨運轉時(shi)(shi)的性能

7.5.低溫室

7.5.1.預冷溫度(du)范圍RT～-55℃

7.5.2.降溫時間+20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時(shi)間為低溫室單獨運轉時(shi)的性能

7.6.試(shi)驗室(shi)（試(shi)樣區）

7.6.1.試(shi)驗方(fang)式(shi)采(cai)用(yong)*之(zhi)蓄熱、蓄冷結構(gou)，強制(zhi)冷熱風路切換方(fang)式(shi)導入測試(shi)區(qu)，沖(chong)擊時(shi)高溫(wen)(wen)區(qu)或(huo)低溫(wen)(wen)區(qu)的溫(wen)(wen)度(du)沖(chong)入測試(shi)區(qu)進行沖(chong)擊,冷熱溫(wen)(wen)度(du)沖(chong)擊測試(shi)。

7.6.2.溫(wen)度(du)波(bo)動度(du)±0.5℃

7.6.3.溫度(du)偏差(cha)±2.0℃

7.6.5.溫(wen)度恢(hui)復時(shi)間(jian)3~5min；轉換溫(wen)度只需(xu)要≤10s（風門開啟時(shi)間(jian)：5秒以內）

7.7.沖擊暴露時間≥30min。